方塊電阻測(cè)試儀的使用特點(diǎn)

TD-XX-2型方塊電阻測(cè)試儀，是TD-XX型系列四探針?lè)綁K電阻 測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品， 是一種依照類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó) A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)，**門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新 型儀器。
   可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧 化膜)……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。
 技術(shù)特點(diǎn)： 
* 測(cè)量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00—199.99(Ω/□)； 擴(kuò)展量程：方塊電阻 10.0—1999.9(Ω/□)； 
* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰。 
* 采用單個(gè)干電池供電，帶電池欠壓指示； 
* 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
 * 帶探頭與被測(cè)物質(zhì)接觸良好指示(LED)； 
* 單電源開(kāi)關(guān)，推拉式探頭-主機(jī)接插件，操作其簡(jiǎn)便。